产品介绍
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华太极光 TA-TDS-INT 集成式太赫兹时域光谱仪，是面向高校、科研院所、企业材料实验室自主研发的一体化紧凑型太赫兹检测分析平台，是中国产集成化太赫兹光谱分析标杆设备，打破进口台式 TDS 设备高成本、光路调试复杂、拓展性弱的行业痛点。
TA-TDS-INT 将透射 / 反射 / ATR (衰减全反射)三大检测模式、高速光谱采集、三维太赫兹成像、AI 边缘计算集于一体，一站式解决固体、粉末、液体、复合材料等非金属介电材料的光谱表征与内部缺陷成像需求，巧妙的集成方式让太赫兹光谱仪实现零光路调试，开机即用。
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产品特点
■ 插拔安转，免光路调试■ 光谱/3D成像联动分析■ 高信噪比精细分辨■ 可选拓展接口，随时按需迭代■ 透射、反射、ATR，全类型样品适配■ 软件AI算力，开放端口适合二次开发 |
频谱测试曲线 |
应用方向
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电池离子导体电导率 |
向日葵种子带皮成像 |
■ 高分子/复合材料研究 ■ 生物科学与药物研发 ■ 食品、农业与化工分析 ■ 文物保护检测 ■ 工业无损检测 ■ 半导体缺陷检测 ■ 新能源锂电光伏 |
型号参数
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型号 |
TA-TDS-INT-04A |
TA-TDS-INT-05 |
TA-TDS-INT-05 Pro |
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频谱范围 |
0.1-4 THz |
0.1-5 THz |
0.1-5.5 THz |
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频谱分辨率 |
＜5GHz |
优于5 GHz |
＜2GHz |
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扫描范围 |
170ps |
0-266 ps |
0-500ps |
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动态范围 |
＜90dB |
＜90 dB |
＜90dB |
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光谱采样速率 |
≥24 Hz@67 ps ≥18 Hz@134 ps |
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聚焦光斑直径 |
≤1 mm |
≤1 mm |
≤1 mm |
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支持样品 |
≤30mm*30mm ≤300mm*300 |
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成像分辨率 |
横向：≤0.5mm 纵向：10μm |
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谱线类型 |
时域谱、频域谱、吸收谱、折射率谱、介电常数谱 |
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成像模式 |
时域成像、频域成像、吸收成像、峰峰值成像 |
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光谱/图像处理算法 |
提供三位层析成像算法包（可选），可定制分类、目标检测、定量分析算法包 |
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控制系统 |
AI图谱分析边缘计算机TA-EDGE-M2（可选），Ubuntu系统，Python SDK |
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| 使用环境 | 温度范围：10~30℃；相对湿度：≤80% | ||
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配件/附件 |
见后文 | ||
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