产品介绍
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华太极光TA-TDS-SEP 分离式太赫兹时域光谱仪可适配十余种检测探头及多种扫描机构，以开放式光学接口、分布式部署、场景灵活适配，成为高校、科研院所、企业材料实验室一站式非金属介电材料光谱表征与内部缺陷成像的标杆平台。
TA-TDS-SEP 分离式太赫兹时域光谱仪，以模块化分离架构重新定义太赫兹光谱系统的灵活边界——将检测主机、光学探头、成像平台解耦为独立单元，让用户根据不同应用场景自由组合、按需升级，真正实现"一机多用，场景随行"。 |
产品特点
■ 开放灵活，适配多种测量探头 |
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应用方向
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太赫兹线缆无损检测仪 |
风电叶片智能检测系统
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■ 工业无损检测 |
型号参数
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型号 |
TA-TDS-SEP-04A |
TA-TDS-SEP-05 |
TA-TDS-SEP-05 Pro |
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频谱范围 |
0.1-4 THz |
0.1-5 THz |
0.1-5.5 THz |
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频谱分辨率 |
＜5GHz |
优于5 GHz |
＜2GHz |
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扫描范围 |
170ps |
0-266 ps |
0-500ps |
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动态范围 |
＜60db |
＜90 dB |
＜90db |
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光谱采样速率 |
1 Hz@67 ps |
≥24 Hz@67 ps ≥18 Hz@134 ps |
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聚焦光斑直径 |
≤1 mm |
≤1 mm |
≤1 mm |
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成像样品 |
/ |
≤500*500mm |
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成像分辨率 |
/ |
横向：≤0.5mm 纵向：zui小10μm |
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谱线类型 |
时域谱、频域谱、吸收谱、折射率谱、介电常数谱 |
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成像模式 |
/ |
时域成像、频域成像、吸收成像、zui大/zui小飞行时间成像、zui大峰/zui小峰成像、峰峰值成像 |
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光谱/图像处理算法 |
提供三位层析成像算法包（可选），可定制分类、目标检测、定量分析算法包 |
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控制系统 |
AI图谱分析边缘计算机TA-EDGE-M2（可选），Ubuntu系统，Python SDK | ||
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使用环境 |
温度范围：10~30℃；相对湿度：≤80% |
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